منبع Xray ریز

منبع RAY Microfocus X -}} ویژه برای بازرسی دقیق -} بازرسی دقیق از اجزای الکترونیکی و مجامع طراحی شده است.
با داشتن حداکثر ولتاژ لوله 90kV و جریان لوله تا 200 میکرومتر ، تصویربرداری با وضوح وضوح {{2} بالا را برای تشخیص نقایص داخلی در تابلوهای مدار ، نیمه هادی ها و سایر مواد متراکم ارائه می دهد. این سیستم با ولتاژ ورودی 24 ولت کار می کند و عملکرد پایدار و کارآمد در محیط های صنعتی را تضمین می کند.
بهینه سازی شده برای برنامه های میکرو فوکوس ، این منبع پرتوی X - تصاویر تیز با حداقل اعوجاج ارائه می دهد ، و آن را به ویژه برای بازرسی مشترک لحیم ، تشخیص ترک داخلی و شناسایی نقایص ساختاری پنهان مناسب می کند. طراحی جمع و جور آن امکان ادغام آسان در سیستم های بازرسی PCB را در حالی که بازده پایدار را حفظ می کند ، امکان پذیر است. ترکیبی از قدرت نفوذ 90kV و اندازه نقطه ریز فوکوس ریز به طور موثری زمان بازرسی را کوتاه می کند.

Microfocus x - ray منبع پرتوی (ولتاژ عملیاتی 40-90KV) ابزاری متنوع است که برای بازرسی دقیق- بالا از اجزای الکترونیکی و قطعات فلزی طراحی شده است. این کار به طور گسترده در تجزیه و تحلیل PCB و مادربرد و همچنین در بازرسی ریخته گری 5- read برای صنایع تلفن همراه ، خودرو و هوافضا اعمال می شود. نشان داده شده در سمت راست ، نمونه ای از قطعات بازیگران- از یک چاه-} سازنده تلفن همراه شناخته شده است. با استفاده از این سیستم ، نقص هایی مانند ترک ، منافذ ، حفره های انقباض ، توزیع مواد ناهموار و نقص ساختاری داخلی به وضوح قابل شناسایی است.

این منبع حداکثر جریان لوله 200 میکرومتر را ارائه می دهد ، که توسط یک ولتاژ ورودی 24 ولت پایدار پشتیبانی می شود و از عملکرد قابل اعتماد حتی در محیط های خواستار اطمینان می دهد. طراحی میکرو فوکوس آن تصاویر تیز و اعوجاج-} تصاویر رایگان را تولید می کند و مهندسان را قادر می سازد تا تفاوتهای ساختاری ظریف را دقیقاً تجزیه و تحلیل کنند. برای کاربردهای الکترونیکی ، به ویژه در بازرسی مشترک لحیم کاری ، تجزیه و تحلیل تراشه BGA و بسته بندی نیمه هادی مؤثر است. برای قطعات فلزی ، نفوذ شدید آن مشاهده عمیق را امکان پذیر می کندبدونسازش کنندهوضوح تصویر.

با طراحی جمع و جور خود ، منبع پرتوی 40-90KV x- به راحتی می تواند در سیستم های بازرسی ادغام شود و یک راه حل قدرتمند برای کنترل کیفیت ، تحقیق و توسعه و تجزیه و تحلیل خرابی در اختیار تولید کنندگان قرار دهد. با ترکیب جزئیات تمرکز خوب با نفوذ شدید ، قابلیت اطمینان بازرسی را افزایش می دهد و در عین حال زمان بازرسی را به میزان قابل توجهی کاهش می دهد.